ICC訊 據(jù)英國《自然·通訊》雜志3日發(fā)表的一篇醫(yī)學研究論文,中美科學家對一種名為“NanoVelcro”的芯片進行了大幅優(yōu)化,新芯片包含很細的硅納米線,可針對胎盤植入譜系(PAS)疾病進行無創(chuàng)早期診斷,這種疾病會導(dǎo)致孕產(chǎn)婦在分娩中死亡。
胎盤植入譜系疾病包括侵入性胎盤、植入性胎盤、穿透性胎盤,具體是指妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層,且在分娩時無法脫落。這會造成嚴重出血,甚至有時會導(dǎo)致孕產(chǎn)婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然也很有效,但有時依然會出現(xiàn)不夠準確的情況,抑或是在資源匱乏的地區(qū)難以實現(xiàn)。
此次,包括美國加州大學洛杉磯分校、中國深圳人民醫(yī)院等機構(gòu)研究人員在內(nèi)的團隊,對之前開發(fā)的“NanoVelcro”芯片進行了優(yōu)化,新芯片包含很細的硅納米線,外部涂有能檢測循環(huán)滋養(yǎng)層細胞(組成胎盤的細胞)的抗體。這些細胞會在胎盤發(fā)育過程中單個或聚集脫落到母體血液循環(huán)中,細胞數(shù)量的增加可能提示胎盤植入譜系疾病。
研究團隊對168位孕婦進行了血檢,有些孕婦被診斷出患有胎盤植入譜系疾病,有些被診斷為胎盤前置(胎盤覆蓋宮頸內(nèi)口),有些胎盤形成正常。團隊發(fā)現(xiàn),PAS組的單個和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細胞計數(shù)比其他兩個組更高。同時,研究還發(fā)現(xiàn),單個和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細胞的數(shù)量,有助于在妊娠早期將PAS從前置胎盤和正常胎盤中區(qū)分出來。
研究人員指出,現(xiàn)在需利用更大樣本開展進一步研究。胎盤植入譜系疾病會導(dǎo)致孕產(chǎn)婦在分娩中出現(xiàn)非常嚴重的狀況,而這種新的診斷技術(shù)則有望在不久的將來補充現(xiàn)有技術(shù),提高妊娠早期診斷胎盤植入譜系疾病的準確性。
總編輯圈點
老話說,產(chǎn)婦是“鬼門關(guān)上走一遭”,隨著醫(yī)學不斷進步,孕產(chǎn)婦生命已得到極大程度的保護。但胎盤植入,仍是產(chǎn)科少見但非常兇險的并發(fā)癥,如不及時果斷處理,依然會危及產(chǎn)婦生命。這一疾病在近年來發(fā)病率呈上升趨勢,因此我們很高興看到,一種能及早診斷并阻止危險發(fā)生的技術(shù)手段,正走向?qū)嵱谩?