蘇州中瀾凌：III-V族和硅光子的測試專家 助力中國半導(dǎo)體發(fā)展

  ICCSZ訊（編輯：Aiur）  歷經(jīng)五十多年發(fā)展，III-V族材料以其成熟優(yōu)秀的發(fā)光效應(yīng)幫助光電子器件在光纖通信、光顯示、激光以及微波射頻等領(lǐng)域的大規(guī)模部署起到了關(guān)鍵作用，III-V族材料經(jīng)過外延生長和后道工序制作成芯片，其性能和穩(wěn)定性會直接影響光器件的使用壽命。因此，芯片測試成為一道關(guān)鍵工序，針對III-V族器件芯片的測試也發(fā)展出了相對應(yīng)的半導(dǎo)體設(shè)備。作為一家專注于傳統(tǒng)半導(dǎo)體以及三五族器件領(lǐng)域的頂尖測試設(shè)備代理供應(yīng)商，蘇州中瀾凌電子科技有限公司（簡稱中瀾凌電子）對III-V族器件測試有著深厚的工藝經(jīng)驗，并在硅光子測試領(lǐng)域成功推出自己的設(shè)備測試方案。

業(yè)界先進(jìn)的STAr硅光測試系統(tǒng)

  近日，中瀾凌電子市場經(jīng)理薛亞玲女士接受訊石網(wǎng)編輯專訪，她介紹公司一直專注三五族器件發(fā)展，為微波射頻、光通訊等企業(yè)提供設(shè)備以及技術(shù)服務(wù)。在半導(dǎo)體測試方面，公司與擁有20余年半導(dǎo)體測試系統(tǒng)經(jīng)驗的STAr公司合作，為客戶提供定制化測試，優(yōu)化工藝和提高效率。公司的晶圓級老化系統(tǒng)和RF自動測試系統(tǒng)深受客戶好評，以及DC/RF探針成功打破美商壟斷，實現(xiàn)自主生產(chǎn)，目前已被一流半導(dǎo)體企業(yè)廣泛使用。設(shè)備材料方面，公司代理的昆山卓天通過引進(jìn)美國知名光刻膠廠家技術(shù)，進(jìn)行本地化生產(chǎn)，在背部鍵合工藝領(lǐng)域，可與美日等先進(jìn)廠商匹敵，為國內(nèi)芯片企業(yè)逐步國產(chǎn)化貢獻(xiàn)了力量。

  芯片測試影響重大 響應(yīng)速度是為關(guān)鍵

  半導(dǎo)體測試具有重要的意義，中瀾凌認(rèn)為半導(dǎo)體行業(yè)技術(shù)的進(jìn)步逐步使芯片尺寸變小，功能更復(fù)雜，成本更低，這讓測試面臨巨大的壓力。隨著芯片尺寸的縮小，特別是7nm節(jié)點需要更快更精確的測試。另外，芯片集成度日益增加，對測試精度和可靠性提出了更高的要求。測試逐步由單一的封裝級，深入至晶圓級以及系統(tǒng)化測試，以確保效能與良率。在RF高頻測試，儀器儀表種類復(fù)雜，測試方法各不相同，需要大量的手動測試程序，如何在高頻測試中通過設(shè)備或者軟件實現(xiàn)自動化量測，非常具有挑戰(zhàn)性，若可以實現(xiàn)，對提升效率，優(yōu)化工藝，解放技術(shù)人員有巨大的幫助。

高精度的可靠性測試系統(tǒng)

  因此半導(dǎo)體行業(yè)的快速發(fā)展，對快速、高效、精確的測試設(shè)備需求越發(fā)擴(kuò)大，“作為先進(jìn)芯片測試設(shè)備的代理商，客戶響應(yīng)速度非常關(guān)鍵，中瀾凌地處蘇州，對華東、華中地區(qū)客戶可以響應(yīng)快速，原廠STAr公司更是在武漢、蘇州建有售后維修基地，為客戶提供近距離快捷服務(wù)”，薛經(jīng)理說道。

  訊石了解到，中瀾凌公司在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的設(shè)備代理和技術(shù)服務(wù)受到眾多大型半導(dǎo)體廠商的認(rèn)可，公司最早從事傳統(tǒng)半導(dǎo)體領(lǐng)域的設(shè)備銷售，跟全球半導(dǎo)體測試領(lǐng)導(dǎo)者STAr公司建立了深度的合作關(guān)系，STAr的wafer level 可靠性測試以及探針卡在業(yè)內(nèi)市場占有率達(dá)到第一，并成功銷售給中芯國際、臺積電、聯(lián)電等國際FAB大廠。大企業(yè)的成功銷售案例為公司在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域打下了堅實的基礎(chǔ)。

享譽業(yè)內(nèi)的STAr探針卡及探針臺

  III-V族和硅光的測試專家 助力中國半導(dǎo)體實現(xiàn)騰飛

  隨著光纖通訊市場快速發(fā)展，對高性能的光電子器件需求越來越大，而傳統(tǒng)的手工制造模式又逐步被自動化生產(chǎn)所替代，設(shè)備的高需求成為光電子行業(yè)發(fā)展的亮點，特別是高精度的封裝、測試設(shè)備，而光電子器件的核心是光電芯片，中瀾凌所銷售的半導(dǎo)體設(shè)備可以很好對應(yīng)光電子器件行業(yè)的需求。薛經(jīng)理告訴編輯，目前中瀾凌的業(yè)務(wù)重心主要在三五族器件領(lǐng)域，公司主要提供wafer lever老化、高溫高濕老化爐、chip prober、高低溫探針臺、探針卡，結(jié)合STAr公司開發(fā)的人馬座軟件，可以將以上設(shè)備、儀器儀表整合在一起，實現(xiàn)全自動測試。

硅光收發(fā)器市場走向預(yù)測

  除了成熟的III-V族技術(shù)，光電子器件正迎來硅光子技術(shù)的大發(fā)展，基于硅光子技術(shù)的光電子器件在數(shù)據(jù)中心和相干傳輸已經(jīng)有了實際的部署，板載光互連也有望使用硅光技術(shù)。根據(jù)Lightcounting數(shù)據(jù)，2017年硅光模塊銷售收入接近8億美元，同比增長22%，另一家研究機(jī)構(gòu)法國YOLE預(yù)測，2025年硅光芯片市場價值達(dá)到5.6億美元，硅光收發(fā)器市場達(dá)到40億美元，占總體光收發(fā)器市場35%，硅光技術(shù)及應(yīng)用正走向繁榮。

“我們處于硅光子產(chǎn)業(yè)爆發(fā)的臨界點” — Yole Développement 2017報告

  薛經(jīng)理表示，硅光子是數(shù)個技術(shù)模塊的整合，包括激光器、光學(xué)元件、MEMS 、高速數(shù)位與射頻系統(tǒng)單晶片(SOCs)。如此復(fù)雜系統(tǒng)的測試，需要在精密機(jī)械、光學(xué)特性與射頻測量等等領(lǐng)域，具備極高的整合專業(yè)知識。而且，光學(xué)測試由封裝級，更將深入至晶圓級半導(dǎo)體進(jìn)程，以確保效能與良率。晶圓級測試的一項測試關(guān)鍵層面，是快速可重復(fù)性的光耦合，包括探針卡位置優(yōu)化，以及偏振校準(zhǔn)。針對硅光子市場，中瀾凌可以提供wafer lever整體解決方案，晶圓級自動化測試。為光通訊元件分析儀(LCA)、光開關(guān)、可調(diào)鐳射光源、光功率計等提供多種儀器驅(qū)動器，可以對可變光衰減器、光學(xué)調(diào)變器，與鐳射光電二極管等等進(jìn)行測試。

  “STAr的Sagittarius-SPT帶來幾項突破，包括在晶圓切割前，提供測試晶圓與元件的自動測試平臺;具有傳統(tǒng)DC與射頻電子的晶圓探測功能，集成至光學(xué)測試范圍;使具有單個或多個不同類型元件能夠以納米級精度自動對準(zhǔn)，無須人工互動，即可按順序方式移至下一個元件。傳統(tǒng)測試需要2周，而使用STAr全自動測試，僅2天即可完成。大大縮減測試時間與成本，提高硅光wafer出貨數(shù)量”，薛經(jīng)理闡述了中瀾凌在硅光測試領(lǐng)域的優(yōu)勢。

  通過與先進(jìn)半導(dǎo)體測試廠商的合作，中瀾凌在半導(dǎo)體行業(yè)積累了豐富的技術(shù)經(jīng)驗和客戶優(yōu)勢，代理的STAr所開發(fā)的整合測試系統(tǒng)已在全球安裝超過一千套，其應(yīng)用范圍廣泛，如SPICE建模、DC-RF元件特性、可靠度品質(zhì)驗證與硅光子測試等。隨著國內(nèi)半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展，中瀾凌希望為國內(nèi)優(yōu)秀的企業(yè)，如華為、烽火、亨通等提供服務(wù)，期待與業(yè)內(nèi)朋友多交流，為三五族器件和硅光器件的發(fā)展提供微薄之力。