是德科技5500SPM升級(jí)方案—start of a new generation

　　ICCSZ訊  隨著是德科技新一代掃描探針顯微鏡控制器的研發(fā)推出，升級(jí)原有5500SPM系統(tǒng)將帶來全新更為先進(jìn)高效的掃描控制方式及便捷的軟件控制界面。

　　系統(tǒng)升級(jí)后的優(yōu)勢(shì)如下：

　　* 基于FPGA處理單元的高帶寬全數(shù)字化新型控制器(FPGA@200MHz)

　　* 全新NanoNavigator 掃描控制軟件，直觀簡(jiǎn)潔的流程式控制界面，對(duì)于各種成像模式系統(tǒng)都預(yù)先集成運(yùn)行模板，用戶使用時(shí)調(diào)用相應(yīng)模板即可，包括專家級(jí)操作模式

　　* 全新的Quick Sense成像模式，對(duì)AFM成像力達(dá)到皮牛級(jí)精準(zhǔn)控制，您可在成像的同時(shí)同步獲取表面粘滯力分布圖、接觸剛度分布圖、壓入深度分布圖、彈性模量分布圖及電流分布圖等力學(xué)電學(xué)信息，并且成像速度及分辨率未受到任何影響

　　* AutoDrive功能自動(dòng)設(shè)置掃描成像參數(shù)

　　* 成像速度較常規(guī)有顯著提高

　　* 一整套基于單次掃描的表面電學(xué)分析成像模式，包括EFM、KFM、PFM等

　　* 完整的原位電化學(xué)控制功能

　　力學(xué)性能表征 - QuickSense

　　40um掃描，256 x256數(shù)據(jù)采集(成像時(shí)長(zhǎng)約8分鐘);

　　其中粘滯力圖中藍(lán)色區(qū)域代表高粘滯力，紅色表示中等粘滯力，白色表示低粘滯力;

　　剛度圖中藍(lán)色區(qū)域代表高模量，紅色代表低模量。

　　電學(xué)性能表征 - KFM

SRAM樣品原位單次掃描表面電勢(shì)成像，

AFM 形貌(A)，相位 (B) ，表面電勢(shì)(C), dC/dZ (D)

　　掃描范圍: 15 µm x 15 µm。