OFC 2023 | 菲萊科技攜最新納秒晶圓測試系統(tǒng)參展

  ICC訊 第48屆光網(wǎng)絡(luò)與通信研討會(huì)及博覽會(huì)(OFC 2023)將于2023年3月7-9日在美國圣地亞哥舉行。領(lǐng)先的光芯片測試及可靠性設(shè)備提供商上海菲萊測試技術(shù)有限公司將攜納秒晶圓測試系統(tǒng)、全自動(dòng)晶圓AOI系統(tǒng)等亮相此次展會(huì)。展位號#6325，歡迎廣大業(yè)內(nèi)同仁及客戶蒞臨交流與合作。

  參展信息：

  上海菲萊測試技術(shù)有限公司

  展會(huì)名稱：OFC 第48屆 光網(wǎng)絡(luò)與通信研討會(huì)及博覽會(huì)

  展會(huì)時(shí)間：2023年3月5-9日

  展會(huì)地點(diǎn)：美國.加州,圣地亞哥

  展位號：#6325

  菲萊科技在OFC現(xiàn)場重點(diǎn)展示的產(chǎn)品包括：

  · 400G/800G硅光芯片耦合系統(tǒng)

  · 納秒晶圓測試系統(tǒng)、

  · 全自動(dòng)晶圓AOI系統(tǒng)、

  · 激光芯片老化系統(tǒng)、

  · 高功率激光老化系統(tǒng)、

  · SiC晶圓級老化系統(tǒng)、

  · 芯片加載和卸載系統(tǒng)

  關(guān)于菲萊科技

  菲萊科技是一家半導(dǎo)體測試設(shè)備和相關(guān)服務(wù)提供商，致力于幫助客戶解決半導(dǎo)體芯片測試和可靠性問題。產(chǎn)品包括：納秒晶圓測試系統(tǒng)、400G/800G硅光芯片耦合系統(tǒng)、全自動(dòng)晶圓AOI系統(tǒng)、激光芯片老化系統(tǒng)、高功率激光老化系統(tǒng)、SiC晶圓級老化系統(tǒng)、芯片加載和卸載系統(tǒng)、內(nèi)存燒錄系統(tǒng)、IGBT燒錄系統(tǒng)等。

  菲光科技是菲萊科技全資子公司，致力于為芯片設(shè)計(jì)公司及晶圓代工廠提供芯片初級封裝及測試服務(wù)，如：Vcsel芯片后處理、RGB芯片封裝和測試、各種激光芯片CoC/COS可靠性測試、激光雷達(dá)發(fā)射模塊測試及驗(yàn)證。

  垂詢方式

  郵箱：Eric.liu@feedlitech.com

  電話：18688779380