CIOE 2020 | 天一瑞合亮相光通信領(lǐng)域可靠性環(huán)境測試產(chǎn)品

  ICC訊 CIOE中國光博會期間，模擬環(huán)境測試整體解決方案提供商—江蘇天一瑞合儀器設(shè)備有限公司(簡稱天一瑞合)首次亮相面向光通信領(lǐng)域的各類可靠性模擬環(huán)境測試設(shè)備，獲得現(xiàn)場觀眾及客戶的高度關(guān)注。

  天一瑞合劉春喜先生向訊石介紹，公司此次展示產(chǎn)品包括超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)/熱流儀、芯片老化試驗(yàn)箱、HAST加速壽命試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、快速溫變應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、ROHS測試儀 、電鍍膜厚儀等諸多產(chǎn)品。

  在現(xiàn)場，天一瑞合展出了TYCT-300芯片老化試驗(yàn)箱，該產(chǎn)品可以自動化進(jìn)行溫控測試，快速升降溫控制，支持APP遠(yuǎn)程控制測試和SATAI/II/III的測試。同時，產(chǎn)品箱內(nèi)風(fēng)速可以與溫度均衡，支持異常斷電測試和老化測試。

       劉總表示，公司在本次光博會推出新產(chǎn)品 — 加速壽命試驗(yàn)機(jī)(HAST)，該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路/微電子/IC等事業(yè)領(lǐng)域，試驗(yàn)?zāi)康氖翘岣攮h(huán)境應(yīng)力，如溫度、濕度、氣壓和 施加給產(chǎn)品的電壓/負(fù)荷等，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間。用于調(diào)查分析被測試樣品何時出現(xiàn)的磨耗和使用壽命的問題、故障分析，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

  訊石還看到，廣泛用于光通訊領(lǐng)域的超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)(熱流儀)，其在最短時間內(nèi)檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害，較少測試與驗(yàn)證時間，快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。

天一瑞合劉總（中）與訊石合影

  天一瑞合是我國上市公司、分析儀器行業(yè)領(lǐng)航者天瑞儀器(股票代碼:300165)相對控股的子公司，產(chǎn)品包括超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)/熱流儀、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、快速溫變應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、精密高溫老化試驗(yàn)箱、CASS試驗(yàn)箱、HAST加速壽命試驗(yàn)箱、復(fù)合鹽霧試驗(yàn)機(jī)等。

  天一瑞合將致力于打造光通信可靠性測試第一品牌，將會緊跟市場需求開發(fā)生產(chǎn)越來越多的新產(chǎn)品，幫助客戶迎接光通信高速產(chǎn)品需求，加快光通信市場升級演進(jìn)。