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東莞銘普光磁取得光模塊相關新發(fā)明專利證書

摘要:東莞銘普光磁于近日取得一項中華人民共和國國家知識產(chǎn)權局頒發(fā)的“光模塊波長控制方法及裝置”發(fā)明專利證書。

 ICC訊  東莞銘普光磁股份有限公司(以下簡稱“銘普光磁”或“公司”)于近日取得一項中華人民共和國國家知識產(chǎn)權局頒發(fā)的發(fā)明專利證書。

       具體情況如下:

  證書號:第 4816045 號

  發(fā)明名稱:光模塊波長控制方法及裝置

  專利號: ZL 2020 1 0528444.8

  專利類型:發(fā)明專利

  專利申請日:2020 年 06 月 11 日

  專利權人:東莞銘普光磁股份有限公司

  授權公告日:2021 年 11 月 26 日

  專利權期限:20 年(自申請日起算)

  本發(fā)明實施例提供的光模塊波長控制方法及裝置,涉及波長控制領域,該方法包括:周期性地采集表征光器件的熱敏電阻實際溫度的電壓參數(shù);獲取本周期熱敏電阻的目標電壓參數(shù)及實際電壓參數(shù);根據(jù)本周期的熱敏電阻的目標電壓參數(shù)及實際電壓參數(shù),計算累積電壓參數(shù)偏差值和周期電壓參數(shù)偏差值;根據(jù)本周期的累積電壓參數(shù)偏差值、本周期的周期電壓參數(shù)偏差值及上一周期的電壓參數(shù)偏差值計算半導體制冷器 TEC 器件電壓調(diào)整量;根據(jù) TEC 器件電壓調(diào)整量控制 TEC 器件對光器件進行溫度調(diào)整以調(diào)整光模塊的發(fā)光波長。根據(jù) TEC 器件電壓調(diào)整量控制 TEC 器件對光器件進行溫度調(diào)整以達到調(diào)整光模塊的發(fā)光波長的目的,調(diào)試難度低,溫度可控性較高,能快速穩(wěn)定波長。

  銘普光磁表示:發(fā)明專利的取得有利于充分發(fā)揮 2 公司自主知識產(chǎn)權優(yōu)勢,完善知識產(chǎn)權保護體系,對公司開拓市場及推廣產(chǎn)品產(chǎn)生積極的影響,形成持續(xù)創(chuàng)新機制,提升公司核心競爭力。

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關鍵字: 銘普光磁 光模塊
文章標題:東莞銘普光磁取得光模塊相關新發(fā)明專利證書
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