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LTE測試技術(shù)挑戰(zhàn)，共創(chuàng)4G時(shí)代美好未來

訊石光通訊網(wǎng)   發(fā)布時(shí)間:2014/1/8 11:36:18   編者:iccsz    
摘要：2013年12月27日下午，第九屆IMCA 國際儀器儀表與測控自動化高峰論壇暨“2013 TD-LTE測量測試核心技術(shù)大會”，在深圳馬可孛羅好日子酒店舉辦并圓滿成功！迎接4G時(shí)代LET測量測試帶來的變革和挑戰(zhàn)，LTE將為測量測試產(chǎn)業(yè)鏈帶來前所未有的發(fā)展機(jī)遇。此屆測量測試業(yè)界翹楚聚焦的2013 TD-LTE測量測試核心技術(shù)大會，以“4G時(shí)代，共創(chuàng)美好未來”為主題成功打造了一個(gè)高水準(zhǔn)的高峰論壇。

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文章標(biāo)題:LTE測試技術(shù)挑戰(zhàn)，共創(chuàng)4G時(shí)代美好未來
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