昊衡科技發(fā)布的OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描,并結(jié)合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣,進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數(shù)。
測量參數(shù)
偏振相關損耗PDL
偏振模色散PMD
插損IL
群延時GD
色散CD
瓊斯矩陣參數(shù)
光學相位
昊衡科技的OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)采用獨特光路設計以及先進算法,實現(xiàn)智能校準,操作簡單,極大節(jié)省測試時間,是一款實現(xiàn)光學器件損耗、色散和偏振測試分析的理想工具。
昊衡科技:
一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司,專業(yè)從事工業(yè)級自校準光學測量與傳感技術開發(fā),也是國內(nèi)唯一一家實現(xiàn)OFDR技術商用化的公司。目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品,主要應用于光學鏈路診斷、光學多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關系,并取得諸多成果。了解更多詳情,請訪問昊衡科技網(wǎng)站http://www.mega-sense.com/。
新聞來源:昊衡科技