產(chǎn)品升級(jí):昊衡科技光纖微裂紋檢測(cè)儀長(zhǎng)度升級(jí)至1m

  ICC訊 以白光干涉為原理的光纖微裂紋檢測(cè)儀，最初受限于延時(shí)纖的測(cè)量長(zhǎng)度，只能測(cè)試6cm,使得測(cè)試場(chǎng)景非常局限，為解決測(cè)量長(zhǎng)度問(wèn)題，昊衡科技?xì)v時(shí)3年，推出測(cè)量長(zhǎng)度1m的國(guó)產(chǎn)光纖微裂紋檢測(cè)儀。

  光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)到1m,是希望能更大程度滿(mǎn)足客戶(hù)測(cè)試所需，解決客戶(hù)不斷匹配跳線(xiàn)，測(cè)試繁瑣問(wèn)題，1m的測(cè)試長(zhǎng)度能更大限度包容待測(cè)樣品，為測(cè)試器件留有更大空間，更便捷客戶(hù)使用。

  設(shè)備測(cè)試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍，在升級(jí)長(zhǎng)度過(guò)程中，不斷迭代已有的光路和模塊，長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，以最優(yōu)化的結(jié)構(gòu)，提升設(shè)備測(cè)試效果。

  以下是光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量保偏光鏈路，該器件長(zhǎng)0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測(cè)試出由保偏光纖雙折射引起的2個(gè)不同時(shí)延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測(cè)。

圖1.保偏光鏈路測(cè)試圖

  昊衡推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)，該系統(tǒng)通過(guò)讀取最終干涉曲線(xiàn)的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào)， 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

圖2.低成本光學(xué)鏈路診斷儀

  OLI 低成本光學(xué)鏈路診斷儀產(chǎn)品應(yīng)用

  01 光纖微裂紋檢測(cè)

  02 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)

  03 FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)

  04 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售于一體的高科技公司，專(zhuān)業(yè)從事工業(yè)級(jí)自校準(zhǔn)光學(xué)測(cè)量與傳感技術(shù)開(kāi)發(fā)，也是一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測(cè)量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測(cè)試。已與全球多個(gè)國(guó)家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話(huà)：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/公眾號(hào)：“昊衡科技”或“大話(huà)光纖傳感”