昊衡科技-OLI用于光器件微裂紋檢測(cè)

  ICC訊 OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。

圖1.OLI低成本光學(xué)鏈路診斷儀

  本次測(cè)試使用了探測(cè)深度為-90dB的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀。圖2為待光測(cè)器件，該器件為MPO接頭，器件內(nèi)部有微裂紋如圖3所示，漏光位置為裂紋點(diǎn)。

圖2.待測(cè)光器件

圖3.光器件內(nèi)部裂紋

圖4.OLI測(cè)試結(jié)果

  將該器件接入OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試結(jié)果如圖4所示。本次測(cè)試檢測(cè)出光器件MPO端面對(duì)接處的反射、光器件內(nèi)部微裂紋和其余光鏈路。OLl光纖微裂紋檢測(cè)儀的高精度探測(cè)能力，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)于微小裂紋的高精度檢測(cè)和定位，為光學(xué)器件的生產(chǎn)和檢測(cè)提供了有效保障。